残差を用いたBag-of-Featuresによる位置同定

Translated title of the contribution: Localization by Bag-of-Features Using Residuals

村山 修一, ヤオカイ フォン, 内田 誠一

Research output: Contribution to journalArticle

Abstract

物体認識においてBag-of-Features法がしばしば用いられる.このアルゴリズムでは,画像から局所特徴を抽出し基本代表ベクトルを生成することによって各特徴のベクトル量子化を行っている.本稿では,ベクトル量子化の際の量子化誤差(残差)に焦点を当て,残差のクラスタリングによって生成した残差代表ベクトルを併用することを考える.そして,基本代表ベクトルと残差代表ベクトルからヒストグラムを生成し,画像を正規化したヒストグラムで表現することで認識を行う.その結果,ヒストグラム生成時の計算量は,基本代表ベクトル数と残差代表ベクトル数の和で済む.実験的にも,従来法よりも少ない計算量で済むことを確認した.
Translated title of the contributionLocalization by Bag-of-Features Using Residuals
Original languageUndefined/Unknown
Pages (from-to)570-570
Number of pages1
Journal電気関係学会九州支部連合大会講演論文集
Volume2011
Issue number0
DOIs
Publication statusPublished - 2011

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