研究成果 1998 2019

フィルター
論文
2004

Evaluation of interface states and minority carrier generation lifetime for strained Si/SiGe wafers using transient capacitance method

Wang, D., Ninomiya, M., Nakamae, M. & Nakashima, H., 12 1 2004, p. 2148-2150. 3 p.

研究成果: 会議への寄与タイプ論文

Interface states
Capacitance
Metals
Deep level transient spectroscopy
Fabrication