加藤 和利

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• 2008

  Erratum: "Degradation analysis of 2 μm DFB laser using optical beam induced current technique" (IEEE Transactions on Electron Devices)

  Takeshita, T., Sato, T., Mitsuhara, M., Kondo, Y., Sugo, M. & Kato, K., 2月 2008, In: IEEE Transactions on Electron Devices. 55, 2, p. 701 1 p.

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