Pureに変更を加えた場合、すぐここに表示されます。

Fingerprint Keisuke Yamamotoが取り組む研究トピックをご確認ください。これらのトピックラベルは、この人物の研究に基づいています。これらを共に使用することで、固有の認識が可能になります。

  • 2 同様のプロファイル
metal oxide semiconductors Physics & Astronomy
field effect transistors Physics & Astronomy
Metals Engineering & Materials Science
Fabrication Engineering & Materials Science
annealing Physics & Astronomy
MOSFET devices Engineering & Materials Science
Annealing Engineering & Materials Science
electrical properties Physics & Astronomy

ネットワーク 最近の共同研究。丸をクリックして詳細を確認しましょう。

研究成果 2006 2019

  • 381 引用
  • 13 h指数
  • 39 記事
  • 7 会議での発言
  • 1 Conference article

Fabrication and characterization of asymmetric metal/Ge/metal diodes with Ge-on-insulator substrate

Maekrua, T., Goto, T., Nakae, K., Yamamoto, K., Nakashima, H. & Wang, D., 1 1 2019, : : Japanese Journal of Applied Physics. 58, SB, SBBE05.

研究成果: ジャーナルへの寄稿記事

公開
Electroluminescence
Diodes
diodes
insulators
Fabrication
公開
Field effect transistors
field effect transistors
insulators
space transportation system
Metals

Polycrystalline thin-film transistors fabricated on high-mobility solid-phase-crystallized Ge on glass

Moto, K., Yamamoto, K., Imajo, T., Suemasu, T., Nakashima, H. & Toko, K., 5 27 2019, : : Applied Physics Letters. 114, 21, 212107.

研究成果: ジャーナルへの寄稿記事

公開
solid phases
transistors
glass
thin films
hole mobility

Border trap evaluation for SiO2/GeO2/Ge gate stacks using deep-level transient spectroscopy

Wen, W. C., Yamamoto, K., Wang, D. & Nakashima, H., 11 28 2018, : : Journal of Applied Physics. 124, 20, 205303.

研究成果: ジャーナルへの寄稿記事

borders
metal oxide semiconductors
traps
capacitors
evaluation
6 引用 (Scopus)

Electrical properties of pseudo-single-crystalline Ge films grown by Au-induced layer exchange crystallization at 250 °c

Higashi, H., Kudo, K., Yamamoto, K., Yamada, S., Kanashima, T., Tsunoda, I., Nakashima, H. & Hamaya, K., 6 7 2018, : : Journal of Applied Physics. 123, 21, 215704.

研究成果: ジャーナルへの寄稿記事

electrical properties
crystallization
transistors
contamination
leakage