Ahlburg, P., Arfaoui, S., Arling, J. H., Augustin, H., Barney, D., Benoit, M., Bisanz, T., Corrin, E., Cussans, D., Dannheim, D., Dreyling-Eschweiler, J., Eichhorn, T., Fiergolski, A., Gregor, I. M., Grosse-Knetter, J., Haas, D., Huth, L., Irles, A., Jansen, H., Janssen, J.
& 37 others,
Keil, M., Keller, J. S., Kiehn, M., Kim, H. J., Kroll, J., Krüger, K., Kulis, S., Kvasnicka, J., Lange, J., Liu, Y., Lütticke, F., Marinas, C., Martinengo, P., Nurnberg, A., Paschen, B., Perrey, H., Peschke, R., Pitzl, D., Pohl, D. L., Quadt, A., Quast, T., Reidt, F., Rossi, E., Rubinsky, I., Rummler, A., Schreeck, H., Schütze, P., Schwenker, B., Spannagel, S., Stanitzki, M., Stolzenberg, U., Suehara, T., Suljic, M., Troska, G., Varga-Kofarago, M., Weingarten, J. & Wieduwilt, P.,
1月 30 2020,
In: Journal of Instrumentation. 15,
1, P01038.
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