200 and 300 MeV/nucleon nuclear reactions responsible for single-event effects in microelectronics

H. Jäderström, Yu Murin, Yu Babain, M. Chubarov, V. Pljuschev, M. Zubkov, P. Nomokonov, N. Olsson, J. Blomgren, U. Tippawan, L. Westerberg, P. Golubev, B. Jakobsson, L. Gerén, P. E. Tegnér, I. Zartova, A. Budzanowski, B. Czech, I. Skwirczynska, V. KondratievH. H.K. Tang, J. Aichelin, Y. Watanabe, K. K. Gudima

研究成果: Contribution to journalArticle査読

2 被引用数 (Scopus)

フィンガープリント

「200 and 300 MeV/nucleon nuclear reactions responsible for single-event effects in microelectronics」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

Physics & Astronomy