2D potential measurements by applying automatic beam adjustment system to heavy ion beam probe diagnostic on the Large Helical Device

A. Shimizu, T. Ido, M. Kurachi, R. Makino, M. Nishiura, S. Kato, A. Nishizawa, Y. Hamada

研究成果: Contribution to journalArticle査読

3 被引用数 (Scopus)

フィンガープリント

「2D potential measurements by applying automatic beam adjustment system to heavy ion beam probe diagnostic on the Large Helical Device」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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