A new comprehensive SRAM soft-effor simulation based on 3D device simulation incorporating neutron nuclear reactions

M. Hane, Y. Kawakami, H. Nakamura, T. Yamada, K. Kumagai, Y. Watanabe

研究成果: 書籍/レポート タイプへの寄稿会議への寄与

2 被引用数 (Scopus)

フィンガープリント

「A new comprehensive SRAM soft-effor simulation based on 3D device simulation incorporating neutron nuclear reactions」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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Engineering & Materials Science