Analytical electron microscopy study of diffusion-bonded multiphase system

M. Watanabe, Z. Horita, M. Nemoto

    研究成果: Contribution to journalArticle査読

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    抄録

    This study presents diffusion experiments of NiAl coupled with pure Ni (Ni/NiAl). The couple produces the Ni3Al-based intermetallic phase (γ' phase) as an intermediate layer at the interface during diffusion annealing. Analytical electron microscopy is used to examine microstructural features, crystallographic orientation and compositional variations across the interface. Interdiffusivities are measured from the compositional variations. It is shown that the growing behavior of the γ' phase changes between higher and lower annealing temperatures. The growth kinetics of the γ' phase is also discussed.

    本文言語英語
    ページ(範囲)229-241
    ページ数13
    ジャーナルInterface Science
    4
    3-4
    DOI
    出版ステータス出版済み - 9 1997

    All Science Journal Classification (ASJC) codes

    • 電子材料、光学材料、および磁性材料
    • 材料科学(全般)
    • 凝縮系物理学

    フィンガープリント

    「Analytical electron microscopy study of diffusion-bonded multiphase system」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

    引用スタイル