Application of N parallel-connected SiC MOSFETs to solid-state circuit breakers based on UIS tests

Zaiqi Lou, Wataru Saito, Shin ichi Nishizawa

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フィンガープリント

「Application of N parallel-connected SiC MOSFETs to solid-state circuit breakers based on UIS tests」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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