Atogram and nanometer trace element detection from solid surface by soft laser ablation atomic fluorescence spectroscopy

Daisuke Nakamura, Yuji Oki, Takayuki Takao, Mitsuo Maeda

研究成果: 書籍/レポート タイプへの寄稿会議への寄与

抄録

Ultimate high sensitivity of trace element detection was proposed and demonstrated by solid surface analysis with laser ablation spectroscopy. Numerical calculation predicts LOD of atogram and 290ag was obtained experimentally about sodium in PMMA.

本文言語英語
ホスト出版物のタイトルConference on Lasers and Electro-Optics, CLEO 2005
出版社Optical Society of America
ISBN(印刷版)1557527709, 9781557527707
出版ステータス出版済み - 1月 1 2005
イベントConference on Lasers and Electro-Optics, CLEO 2005 - Baltimore, MD, 米国
継続期間: 5月 22 20055月 22 2005

出版物シリーズ

名前Optics InfoBase Conference Papers
ISSN(電子版)2162-2701

その他

その他Conference on Lasers and Electro-Optics, CLEO 2005
国/地域米国
CityBaltimore, MD
Period5/22/055/22/05

!!!All Science Journal Classification (ASJC) codes

  • 器械工学
  • 原子分子物理学および光学

フィンガープリント

「Atogram and nanometer trace element detection from solid surface by soft laser ablation atomic fluorescence spectroscopy」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

引用スタイル