Contribution of ionic precursors to deposition rate of a-Si:H films fabricated by plasma CVD

S. Toko, Y. Hashimoto, Y. Kanemitu, Y. Torigoe, H. Seo, G. Uchida, K. Kamataki, N. Itagaki, K. Koga, M. Shiratani

研究成果: ジャーナルへの寄稿会議記事査読

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抄録

We have studied contribution of ionic precursors to deposition rate of a-Si:H films in the downstream region of a multi-hollow discharge plasma CVD reactor using a DC bias grid and QCMs. The deposition rate decreases from 1.1 to 0.93 by applying negative bias voltage to the bias grid. The ionic precursors contribute to 7% of the total deposition rate and the dominant ionic precursors are considered to be negatively charged clusters.

本文言語英語
論文番号012008
ジャーナルJournal of Physics: Conference Series
518
1
DOI
出版ステータス出版済み - 2014
イベント26th Symposium on Plasma Sciences for Materials, SPSM 2013 - Fukuoka, 日本
継続期間: 9月 23 20139月 24 2013

!!!All Science Journal Classification (ASJC) codes

  • 物理学および天文学(全般)

フィンガープリント

「Contribution of ionic precursors to deposition rate of a-Si:H films fabricated by plasma CVD」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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