Crack Tip dislocations Observed by High-Voltage Electron-Microscopy in Single Crystal Silicon

Kenji Higashida, Masaki Tanaka

    研究成果: 書籍/レポート タイプへの寄稿会議への寄与

    本文言語英語
    ホスト出版物のタイトル Proceedings of 16th International Microscopy Congress, Publication committee of IMC16
    ページ1110
    ページ数1
    出版ステータス出版済み - 2006

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