Defect analysis of SiC sublimation growth by the in-situ X-ray topography

T. Kato, N. Oyanagi, H. Yamaguchi, S. Nishizawa, K. Arai

研究成果: Contribution to journalConference article査読

フィンガープリント

「Defect analysis of SiC sublimation growth by the in-situ X-ray topography」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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