Defect and field-enhancement characterization through electron-beam-induced current analysis

Hitoshi Umezawa, Hiroki Gima, Khaled Driche, Yukako Kato, Tsuyoshi Yoshitake, Yoshiaki Mokuno, Etienne Gheeraert

研究成果: ジャーナルへの寄稿学術誌査読

15 被引用数 (Scopus)

フィンガープリント

「Defect and field-enhancement characterization through electron-beam-induced current analysis」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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