Defect characterization and control for SiGe-on-insulator

Dong Wang, Haigui Yang, Hiroshi Nakashima

研究成果: 書籍/レポート タイプへの寄稿会議への寄与

フィンガープリント

「Defect characterization and control for SiGe-on-insulator」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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