Defect evaluation by photoluminescence for uniaxially strained Si-on-insulator

Dong Wang, Keisuke Yamamoto, Hongye Gao, Haigui Yang, Hiroshi Nakashima

研究成果: Chapter in Book/Report/Conference proceedingConference contribution

フィンガープリント

「Defect evaluation by photoluminescence for uniaxially strained Si-on-insulator」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

Engineering & Materials Science