Defect evaluation by photoluminescence for uniaxially strained Si-On-insulator

Dong Wang, Keisuke Yamamoto, Hongye Gao, Haigui Yang, Hiroshi Nakashima

研究成果: ジャーナルへの寄稿学術誌査読

フィンガープリント

「Defect evaluation by photoluminescence for uniaxially strained Si-On-insulator」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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