Dependable VLSI: Device, design and architecture-How should they co-operate ?

Shuichi Sakai, Hidetoshi Onodera, Hiroto Yasuura, James C. Hoe

研究成果: Chapter in Book/Report/Conference proceedingConference contribution

抄録

VLSI dependability is one of the most significant issues in the modern world. Here the panelists will discuss the key technologies for it as well as the cost optimization among device, design and architecture.

本文言語英語
ホスト出版物のタイトルProceedings of the ASP-DAC 2009
ホスト出版物のサブタイトルAsia and South Pacific Design Automation Conference 2009
ページ859-860
ページ数2
DOI
出版ステータス出版済み - 4 20 2009
イベントAsia and South Pacific Design Automation Conference 2009, ASP-DAC 2009 - Yokohama, 日本
継続期間: 1 19 20091 22 2009

出版物シリーズ

名前Proceedings of the Asia and South Pacific Design Automation Conference, ASP-DAC

その他

その他Asia and South Pacific Design Automation Conference 2009, ASP-DAC 2009
国/地域日本
CityYokohama
Period1/19/091/22/09

All Science Journal Classification (ASJC) codes

  • コンピュータ サイエンスの応用
  • コンピュータ グラフィックスおよびコンピュータ支援設計
  • 電子工学および電気工学

フィンガープリント

「Dependable VLSI: Device, design and architecture-How should they co-operate ?」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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