Determination of strontium segregation in modified hypoeutectic Al-Si alloy by micro X-ray fluorescence analysis

K. Nogita, H. Yasuda, K. Yoshida, K. Uesugi, A. Takeuchi, Y. Suzuki, A. K. Dahle

研究成果: ジャーナルへの寄稿学術誌査読

95 被引用数 (Scopus)

抄録

Analysis of intra- and inter-phase distribution of modifying elements in aluminium-silicon alloys is difficult due to the low concentrations used. This research utilises a μ-XRF (X-ray fluorescence) technique at the SPring-8 synchrotron radiation facility X-ray source and reveals that the modifying element strontium segregates exclusively to the eutectic silicon phase and the distribution of strontium within this phase is relatively homogeneous. This has important implications for the fundamental mechanisms of eutectic modification in hypoeutectic aluminium-silicon alloys.

本文言語英語
ページ(範囲)787-790
ページ数4
ジャーナルScripta Materialia
55
9
DOI
出版ステータス出版済み - 11月 2006
外部発表はい

!!!All Science Journal Classification (ASJC) codes

  • 材料科学(全般)
  • 凝縮系物理学
  • 材料力学
  • 機械工学
  • 金属および合金

フィンガープリント

「Determination of strontium segregation in modified hypoeutectic Al-Si alloy by micro X-ray fluorescence analysis」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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