DFT study on point defects migration through the pseudomorphic and lattice-matched InN/GaN interfaces

Roman Hrytsak, Pawel Kempisty, Ewa Grzanka, Michal Leszczynski, Malgorzata Sznajder

研究成果: Contribution to journalArticle査読

4 被引用数 (Scopus)

フィンガープリント

「DFT study on point defects migration through the pseudomorphic and lattice-matched InN/GaN interfaces」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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