低フルエンスアブレーションを利用した高感度分光分析における放出原子特性

中村 大輔, 高尾 隆之, 興 雄司, 前田 三男

研究成果: Contribution to journalArticle査読

抄録

A low fluence UV laser ablation technique combined with Laser-Induced Fluorescence (LIF) spectroscopy is developed for an extreme trace element analysis of solid surface with a nanometer-scale depth resolution. Since the behavior of scattering atoms by the laser ablation was significant for improving the sensitivity of the analysis, the spatial distributions of the scattering atoms were investigated by a two dimensional imaging LIF spectroscopy method. Influences of a buffer gas and an assist mask on the atomic distributions were also investigated for enhancing the sensitivity of the analysis.
寄稿の翻訳タイトルDiagnostics of Scattering Atoms for High Sensitive Spectroscopy Using Low-Fluence Laser Ablation
本文言語日本語
ページ(範囲)206-210
ページ数5
ジャーナルレーザー研究
36
4
DOI
出版ステータス出版済み - 4 15 2008

フィンガープリント

「低フルエンスアブレーションを利用した高感度分光分析における放出原子特性」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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