Dual Resonance Circuits by Defected Ground Structure Resonators for Low Phase Noise K-Band CMOS VCO

研究成果: Chapter in Book/Report/Conference proceedingConference contribution

抄録

We analyze the quality factor (Q_U/Q_K) of three different types of defected ground structure (DGS) resonators including a series resonance in addition to the parallel one. Then, we implement the resonators to design high-performance K-band VCOs in 0.18μ CMOS Technology and finally, a low phase noise VCO at K-band is introduced.

本文言語英語
ホスト出版物のタイトル2018 IEEE International Symposium on Radio-Frequency Integration Technology, RFIT 2018
出版社Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
ISBN(電子版)9781538659717
DOI
出版ステータス出版済み - 11 5 2018
イベント2018 IEEE International Symposium on Radio-Frequency Integration Technology, RFIT 2018 - Melbourne, オーストラリア
継続期間: 8 15 20188 17 2018

出版物シリーズ

名前2018 IEEE International Symposium on Radio-Frequency Integration Technology, RFIT 2018

その他

その他2018 IEEE International Symposium on Radio-Frequency Integration Technology, RFIT 2018
国/地域オーストラリア
CityMelbourne
Period8/15/188/17/18

All Science Journal Classification (ASJC) codes

  • コンピュータ ネットワークおよび通信
  • ハードウェアとアーキテクチャ
  • 電子工学および電気工学

フィンガープリント

「Dual Resonance Circuits by Defected Ground Structure Resonators for Low Phase Noise K-Band CMOS VCO」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

引用スタイル