Effects of Si layer thickness on solid-phase crystallization of stacked Ge/Si/SiO2 structures (Special issue: Active-matrix flatpanel displays and devices: TFT technologies and FPD materials)

Taizoh Sadoh, Hiroki Ohta, Masanobu Miyao

研究成果: Contribution to journalArticle査読

本文言語英語
ページ(範囲)03B004-1〜3
ジャーナルJapanese Journal of Applied Physics, Part 2: Letters
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出版ステータス出版済み - 3 2009

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