Electrical characterization of strained Si/SiGe wafers using transient capacitance measurements

Dong Wang, Masaharu Ninomiya, Masahiko Nakamae, Hiroshi Nakashima

研究成果: Contribution to journalArticle査読

13 被引用数 (Scopus)

フィンガープリント 「Electrical characterization of strained Si/SiGe wafers using transient capacitance measurements」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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