Electrical characterization of thin SOI wafers using lateral MOS transient capacitance measurements

D. Wang, A. Ueda, H. Takada, H. Nakashima

研究成果: ジャーナルへの寄稿会議記事査読

3 被引用数 (Scopus)

フィンガープリント

「Electrical characterization of thin SOI wafers using lateral MOS transient capacitance measurements」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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