Electron detachment spectroscopic study on carbon and silicon cluster anions

Y. Achiba, M. Kohno, M. Ohara, S. Suzuki, H. Shiromaru

研究成果: ジャーナルへの寄稿学術誌査読

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抄録

The electron detachment of mass-selected carbon and silicon cluster anions was studied using different ion-source conditions. Ultraviolet photoelectron spectra of medium-sized carbon cluster anions were measured using a laser vaporization source with different fluences. On systematic inspection, the series of spectra showed 4n-periodicity in their electron affinity, which is consistent with the predicted ring-form structure. For silicon cluster anions, resonance-enhanced multiphoton electron detachment spectra were measured. The role of the carrier gases He, N2 and CO2 is discussed.

本文言語英語
ページ(範囲)231-240
ページ数10
ジャーナルJournal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena
142
3 SPEC. ISS.
DOI
出版ステータス出版済み - 3月 2005

!!!All Science Journal Classification (ASJC) codes

  • 電子材料、光学材料、および磁性材料
  • 放射線
  • 原子分子物理学および光学
  • 凝縮系物理学
  • 分光学
  • 物理化学および理論化学

フィンガープリント

「Electron detachment spectroscopic study on carbon and silicon cluster anions」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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