Electron microscopy with high accuracy and precision at atomic resolution: In-situ observation of a dielectric crystal under electric field

Yukio Sato, Takashi Gondo, Hiroya Miyazaki, Ryo Teranishi, Kenji Kaneko

    研究成果: ジャーナルへの寄稿学術誌査読

    5 被引用数 (Scopus)

    フィンガープリント

    「Electron microscopy with high accuracy and precision at atomic resolution: In-situ observation of a dielectric crystal under electric field」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

    Physics & Astronomy