Experimental study of the effect of interconnects on phase noise of K-band VCO in 0.18μm CMOS technology

Baichuan Chen, Nusrat Jahan, Adel Barakat, Ramesh K. Pokharel

研究成果: Chapter in Book/Report/Conference proceedingConference contribution

フィンガープリント

「Experimental study of the effect of interconnects on phase noise of K-band VCO in 0.18μm CMOS technology」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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