Field emission characterristics of defect-controlled polyimide tunneling cathode

Akiyoshi Baba, Tomoya Yoshida, Tanemasa Asano

研究成果: 書籍/レポート タイプへの寄稿会議への寄与

本文言語英語
ホスト出版物のタイトルTechnical Digest of the 16th International Vacuum Microelectronics Conference, IVMC 2003
編集者Mikio Takai, Junzo Ishikawa, Yasuhito Gotoh
出版社Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
ページ267-268
ページ数2
ISBN(電子版)4818195154, 9784818195158
DOI
出版ステータス出版済み - 1月 1 2003
イベント16th International Vacuum Microelectronics Conference, IVMC 2003 - Toyonaka, Osaka, 日本
継続期間: 7月 7 20037月 11 2003

出版物シリーズ

名前Proceedings of the IEEE International Vacuum Microelectronics Conference, IVMC
2003-January

その他

その他16th International Vacuum Microelectronics Conference, IVMC 2003
国/地域日本
CityToyonaka, Osaka
Period7/7/037/11/03

!!!All Science Journal Classification (ASJC) codes

  • 電子工学および電気工学
  • 凝縮系物理学
  • 電子材料、光学材料、および磁性材料

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