Hard x-ray wavefront measurement and control for hard x-ray nanofocusing

Soichiro Handa, Hidekazu Mimura, Satoshi Matsuyama, Hirokatsu Yumoto, Takashi Kimura, Yasuhisa Sano, Kenji Tamasaku, Yoshinori Nishino, Makina Yabashi, Tetsuya Ishikawa, Kazuto Yamauchi

研究成果: Chapter in Book/Report/Conference proceedingConference contribution

フィンガープリント 「Hard x-ray wavefront measurement and control for hard x-ray nanofocusing」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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