High-Q SWCPL for CMOS millimeter-wave technology

D. A.A. Mat, R. K. Pokharel, R. Sapawi, H. Kanaya, K. Yoshida

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抄録

In this paper, slow wave coplanar waveguide transmission line (SWCPL) is proposed on patterned ground shields in 0.18 μm CMOS technology for low-loss passive devices, components and interconnects in millimeter wave region. Patterned grounds act to produce the slow-wave effect and they are usually kept below the metallization plane to reduce dielectric loss of the lossy silicon substrates. The measured attenuation loss and phase constant of the proposed CPW are 0.619dB/mm and 2.574 rad/mm, respectively which result in the Quality factor (Q-factor) to be 18 at 54 GHz.

本文言語英語
ページ(範囲)1284-1289
ページ数6
ジャーナルIEICE Electronics Express
9
15
DOI
出版ステータス出版済み - 2012

All Science Journal Classification (ASJC) codes

  • 電子材料、光学材料、および磁性材料
  • 凝縮系物理学
  • 電子工学および電気工学

フィンガープリント

「High-Q SWCPL for CMOS millimeter-wave technology」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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