HVEM observation of crack tip dislocations in silicon crystals

K. Higashida, T. Kawamura, T. Morikawa, Y. Miura, N. Narita, R. Onodera

    研究成果: Contribution to journalArticle査読

    20 被引用数 (Scopus)

    フィンガープリント

    「HVEM observation of crack tip dislocations in silicon crystals」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

    Engineering & Materials Science

    Physics & Astronomy

    Chemical Compounds