In situ two-dimensional micro-imaging XAFS with CCD detector

H. Tanida, H. Yamashige, Y. Orikasa, T. Fujimoto, M. Oishi, H. Murayama, H. Arai, M. Katayama, Y. Inada, T. Ohta, Y. Uchimoto, Z. Ogumi

研究成果: ジャーナルへの寄稿会議記事査読

4 被引用数 (Scopus)

抄録

In situ two-dimensional (2D) micro-imaging X-ray absorption fine structure (XAFS) measurements were performed in transmission mode using a charge coupled device (CCD) detector, phosphor screen, and magnifying lens. This method makes it possible to display a 2D image with a spatial resolution of around 2 μm at each energy point in a XAFS spectrum. The method was applied to in situ transmission micro-imaging XAFS measurement with a quick scanning technique.

本文言語英語
論文番号012021
ジャーナルJournal of Physics: Conference Series
430
1
DOI
出版ステータス出版済み - 2013
外部発表はい
イベント15th International Conference on X-Ray Absorption Fine Structure, XAFS 2012 - Beijing, 中国
継続期間: 7月 22 20127月 28 2012

!!!All Science Journal Classification (ASJC) codes

  • 物理学および天文学(全般)

フィンガープリント

「In situ two-dimensional micro-imaging XAFS with CCD detector」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

引用スタイル