Interface structures of AlN/MgB2 thin films sputtered on sapphire c- and r-plane

H. Abe, M. Naito, W. J. Moon, K. Kaneko, A. Saito, Z. Wang

    研究成果: ジャーナルへの寄稿学術誌査読

    4 被引用数 (Scopus)

    抄録

    The influences of the substrates planes on the interface structures between AlN and MgB2 layers were investigated. These layers were deposited on sapphire substrate with different orientations by a conventional method. Selected-area electron diffraction patterns and high-resolution TEM were applied on the cross-sectional thinned specimens.

    本文言語英語
    ページ(範囲)2343-2346
    ページ数4
    ジャーナルJournal of Applied Physics
    96
    4
    DOI
    出版ステータス出版済み - 8月 15 2004

    !!!All Science Journal Classification (ASJC) codes

    • 物理学および天文学(全般)

    フィンガープリント

    「Interface structures of AlN/MgB2 thin films sputtered on sapphire c- and r-plane」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

    引用スタイル