Nanoscale and femtogram trace element analysis using soft laser ablation fluorescence spectroscopy

Yuji Oki, Takayuki Takao, Takashi Higotani, Daisuke Nakamura, Mitsuo Maeda

研究成果: ジャーナルへの寄稿会議記事査読

抄録

A solid-state surface analysis of trace element was demonstrated with nanometer depth resolution and femtogram detection sensitivity. An LIF spectroscopy was combined with an excimer laser ablation, and the depth resolution of 3.6nm was obtained.

本文言語英語
ページ(範囲)1854-1855
ページ数2
ジャーナルOSA Trends in Optics and Photonics Series
88
出版ステータス出版済み - 1月 1 2003
イベントConference on Lasers and Electro-Optics (CLEO); Postconference Digest - Baltimore, MD, 米国
継続期間: 6月 1 20036月 6 2003

!!!All Science Journal Classification (ASJC) codes

  • 工学(全般)

フィンガープリント

「Nanoscale and femtogram trace element analysis using soft laser ablation fluorescence spectroscopy」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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