New perspectives in the surface analysis of energy materials by combined time-of-flight secondary ion mass spectrometry (ToF-SIMS) and high sensitivity low-energy ion scattering (HS-LEIS)

Helena Téllez, Ainara Aguadero, John Druce, Mónica Burriel, Sarah Fearn, Tatsumi Ishihara, David S. McPhail, John A. Kilner

    研究成果: ジャーナルへの寄稿総説査読

    35 被引用数 (Scopus)

    フィンガープリント

    「New perspectives in the surface analysis of energy materials by combined time-of-flight secondary ion mass spectrometry (ToF-SIMS) and high sensitivity low-energy ion scattering (HS-LEIS)」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

    Chemical Compounds