Nickel‐related deep levels in silicon studied by combined hall effect and DLTS measurement

H. Kitagawa, H. Nakashima

    研究成果: Contribution to journalArticle査読

    15 被引用数 (Scopus)
    本文言語英語
    ページ(範囲)K49-K52
    ジャーナルphysica status solidi (a)
    99
    1
    DOI
    出版ステータス出版済み - 1 16 1987

    All Science Journal Classification (ASJC) codes

    • 電子材料、光学材料、および磁性材料
    • 凝縮系物理学

    引用スタイル