Nuclear reaction models responsible for simulation of neutron-induced soft errors in microelectronics

Y. Watanabe, S. Abe

研究成果: Contribution to journalArticle査読

フィンガープリント

「Nuclear reaction models responsible for simulation of neutron-induced soft errors in microelectronics」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

Physics & Astronomy