Numerical simulation of SIC processes: A characterization tool for the design of epitaxial structures in electronics
M. Pons, S. Nishizawa, P. Wellmann, M. Ucar, E. Blanquet, J. M. Dedulle, F. Baillet, D. Chaussende, C. Bernard, R. Madar
研究成果: 会議への寄与タイプ › 学会誌 › 査読
フィンガープリント
「Numerical simulation of SIC processes: A characterization tool for the design of epitaxial structures in electronics」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。