Optical-beam-induced-current analysis of wear-out degradation in high-reliability Fabry-Perot laser diodes for access networks

Tsuyoshi Ito, Tatsuya Takeshita, Mitsuru Sugo, Takeshi Kurosaki, Yuji Akatsu, Kazutoshi Kato

研究成果: ジャーナルへの寄稿学術誌査読

3 被引用数 (Scopus)

フィンガープリント

「Optical-beam-induced-current analysis of wear-out degradation in high-reliability Fabry-Perot laser diodes for access networks」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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