OS1215 応力集中部を有する微小多結晶Si構造体における寸法効果(ナノ・マイクロからの視点からの変形と破壊の力学(2),オーガナイズドセッション)

濱田 繁, 中浦 寛之

研究成果: Contribution to journalArticle

抄録

微小多結晶Siに対して,強度試験及び表面粗さ測定による寸法効果を含む応力集中部の破壊強度評価法を提案する.単結晶Siウェーハ上に形成した微小片持ち梁に微小硬さ試験機で荷重を与え,曲げ試験によって強度を測定した.また,AFMによる表面粗さ測定の結果をもとに,表面粗さによる応力集中を求めることによって,高応力が作用する部位の面積で定義される有効面積を求めた.計測して求めた応力集中係数をもとに極値統計を用いて試料表面における最大の応力集中係数を推定し,破壊強度を評価した.
寄稿の翻訳タイトルOS1215 Size effect of micro polycrystalline silicon structure with stress concentration
本文言語日本語
ページ(範囲)_OS1215-1_-_OS1215-2_
ジャーナルM&M材料力学カンファレンス
2008
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DOI
出版ステータス出版済み - 2008

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