Overview of large helical device diagnostics (invited)

S. Sudo, Y. Nagayama, M. Emoto, M. Goto, Y. Hamada, K. Ida, T. Ido, H. Iguchi, S. Inagaki, M. Isobe, K. Kawahata, K. Khlopenkov, S. Masuzaki, T. Minami, S. Morita, S. Muto, H. Nakanishi, K. Narihara, A. Nishizawa, S. OhdachiM. Osakabe, T. Ozaki, B. J. Peterson, S. Sakakibara, M. Sasao, K. Sato, M. Shoji, K. Tanaka, K. Toi, T. Tokuzawa, K. Watanabe, T. Watanabe, I. Yamada, N. Ashikawa, T. Kobuchi, Y. Liang, N. Tamura, H. Sasao, A. Ejiri, S. Okajima, A. Mase, S. Tsuji-lio, T. Akiyama, V. Zanza, G. Bracco, A. Sibio, B. Tilia, A. V. Krasilnikov, J. F. Lyon, L. N. Vyacheslavov, G. A. Wurden

研究成果: Contribution to journalReview article査読

12 被引用数 (Scopus)

フィンガープリント

「Overview of large helical device diagnostics (invited)」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

Engineering & Materials Science

Physics & Astronomy