Photoluminescence characterization of strained Si-SiGe-on-insulator wafers with different Ge fractions

Dong Wang, Hiroshi Nakashima, Koji Matsumoto, Masahiko Nakamae

研究成果: ジャーナルへの寄稿学術誌査読

31 被引用数 (Scopus)

フィンガープリント

「Photoluminescence characterization of strained Si-SiGe-on-insulator wafers with different Ge fractions」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

Physics & Astronomy