Si結晶中のき裂先端近傍のHVEM/AFM観察

Kenji Higashida, Tetsuro Kawamura, Masaki Tanaka

    研究成果: 書籍/レポート タイプへの寄稿百科事典/辞書の記事

    本文言語日本語
    ホスト出版物のタイトル電子顕微鏡法の実践と応用写真集
    出版社Japan Institute of Metals (JIM)
    ページ179
    ページ数1
    出版ステータス出版済み - 2001

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