Simplification of X-ray absorption correction in thin-sample quantitative microanalysis

Zenji Horita, Takeshi Sano, Minoru Nemoto

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    抄録

    It is shown that the correction of X-ray absorption in thin-sample quantitative microanalysis does not necessarily require the measurement of foil thicknesses when the extrapolation method is used. With this method, it is sufficient to use the characteristic X-ray intensity as an alternative to the foil thickness. This method is applied to the determination of kAlNi and kTaNi factors and the microanalysis of γ and γ' phases in a Ni-Al-Ta ternary alloy.

    本文言語英語
    ページ(範囲)271-276
    ページ数6
    ジャーナルUltramicroscopy
    21
    3
    DOI
    出版ステータス出版済み - 1 1 1987

    All Science Journal Classification (ASJC) codes

    • 電子材料、光学材料、および磁性材料
    • 原子分子物理学および光学
    • 器械工学

    フィンガープリント

    「Simplification of X-ray absorption correction in thin-sample quantitative microanalysis」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

    引用スタイル