Ultra Trace Determination Scheme for 26 Al by High-Resolution Resonance Ionization Mass Spectrometry using a Pulsed Ti:Sapphire Laser

Hideki Tomita, Christoph Mattolat, Thomas Kessler, Sebastian Raeder, Fabio Schwellnus, Klaus D.A. Wendt, Kenichi Watanabe, Tetsuo Iguichi

研究成果: ジャーナルへの寄稿学術誌査読

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抄録

We propose an ultra trace analysis approach for 26Al by high-resolution Resonance Ionization Mass Spectrometry (RIMS) using a pulsed narrow band-width Ti:Sapphire laser. For ensuring efficient ionization and high isotopic selectivity in RIMS of Al, we developed an injection seeded pulsed Ti:Sapphire laser with high repetition rate operation at up to 10 kHz. The laser produced an output power of 2 W and a spectral band-width of ≈20 MHz with a repetition rate of 7 kHz. A first demonstration of its performance was done by detecting stable 27Al using RIMS.

本文言語英語
ページ(範囲)37-42
ページ数6
ジャーナルjournal of nuclear science and technology
45
DOI
出版ステータス出版済み - 9月 2008
外部発表はい

!!!All Science Journal Classification (ASJC) codes

  • 核物理学および高エネルギー物理学
  • 原子力エネルギーおよび原子力工学

フィンガープリント

「Ultra Trace Determination Scheme for 26 Al by High-Resolution Resonance Ionization Mass Spectrometry using a Pulsed Ti:Sapphire Laser」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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