Visualization of ultrafast electron dynamics using time-resolved photoemission electron microscopy

K. Fukumoto, Y. Yamada, T. Matsuki, K. Onda, T. Noguchi, R. Mizokuchi, S. Oda, S. Koshihara

研究成果: Chapter in Book/Report/Conference proceedingConference contribution

1 被引用数 (Scopus)

抄録

We constructed a TR-PEEM which can directly image the photo-generated electron dynamics in semiconductor on nm and fs scales. Carrier transport properties relating to device performance, carrier lifetime, drift velocity and mobility, are investigated.

本文言語英語
ホスト出版物のタイトルUltrafast Phenomena XIX - Proceedings of the 19th International Conference
編集者Louis DiMauro, Regina de Vivie-Riedle, Kaoru Yamanouchi, Makoto Kuwata-Gonokami, Steven Cundiff
出版社Springer Science and Business Media, LLC
ページ337-340
ページ数4
ISBN(電子版)9783319132419
DOI
出版ステータス出版済み - 2015
外部発表はい
イベント19th International Conference on Ultrafast Phenomena, 2014 - Okinawa, 日本
継続期間: 7 7 20147 11 2014

出版物シリーズ

名前Springer Proceedings in Physics
162
ISSN(印刷版)0930-8989
ISSN(電子版)1867-4941

その他

その他19th International Conference on Ultrafast Phenomena, 2014
Country日本
CityOkinawa
Period7/7/147/11/14

All Science Journal Classification (ASJC) codes

  • Physics and Astronomy(all)

フィンガープリント 「Visualization of ultrafast electron dynamics using time-resolved photoemission electron microscopy」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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