X-ray topographic study of SiC crystal at high temperature

H. Yamaguchi, N. Oyanagi, T. Kato, Y. Takano, Shinichi Nishizawa, W. Bahng, S. Yoshida, K. Arai

研究成果: Contribution to journalConference article査読

フィンガープリント 「X-ray topographic study of SiC crystal at high temperature」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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